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| 微陣列規(guī)范化和井下質(zhì)量控制 | |||||||||||
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信號和數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化也是一大挑戰(zhàn)芯片技術(shù),并變得更加強(qiáng)調(diào)在應(yīng)用到多路定量數(shù)組。 這個問題已經(jīng)在QuantiSpot減輕風(fēng)濕性關(guān)節(jié)炎試驗和其他化驗在開發(fā)利用GMP控制協(xié)議和整合一致的固相涂層,板均勻性在制造、內(nèi)置正?;臏y定??刂?/span>
論文是校準(zhǔn)使用外部標(biāo)準(zhǔn)追蹤到公認(rèn)的參考標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)部規(guī)范化的過程。 在每一個試驗,測定包含一系列的標(biāo)準(zhǔn)化微陣列斑點(diǎn)。 這種標(biāo)準(zhǔn)化系列最小化井間和板板變化。 當(dāng)變化發(fā)生時,算法自動捕獲信號,確保規(guī)范化類似信號響應(yīng)在等效測試點(diǎn)在不同的井和在不同的板塊。 歸一化的值將被轉(zhuǎn)換成一個標(biāo)準(zhǔn)化的結(jié)果。 對于射頻分析物,測定標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)國際參考標(biāo)準(zhǔn)(誰,英國第一個標(biāo)準(zhǔn)64/2)。 由于沒有相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的確認(rèn)的抗ccp抗體分析物,它是標(biāo)準(zhǔn)化的反對商業(yè)化試管謂詞測試。
當(dāng)前的ELISA測試沒有井下QC機(jī)制。 至少,實驗室定期執(zhí)行重復(fù)的測試來檢測樣品測試失敗。 雖然這種做法是有效的,測試樣本在復(fù)制很大程度上影響時間和測試成本。 多路復(fù)用的QuantiSpot化驗有集成,從而可以將井下QC錯誤如沒有樣品補(bǔ)充道,不適當(dāng)?shù)臏y試操作,和不正確的試劑添加任何可能導(dǎo)致假陰性或假陽性結(jié)果。 這樣的控制確保無效的測試結(jié)果的分析物,或板水平都沒有報告。 井下微陣列分析提供額外的質(zhì)量保證測試結(jié)果獲得正確的病人第一次,除了重大勞動、時間和降低成本。
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